TS600T-PM-Y 偏光顯微鏡冷熱臺冷熱臺廣泛應用于半導體、高分子聚合物、液態(tài)晶體、冶金等各種研究領域。冷熱臺可以跟光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡、激光拉曼、傅里葉紅外光譜儀、X射線衍射儀等設備聯(lián)用,用于材料在變溫條件下的研究和表征。
簡要描述:$nTS-PM-Y 系列冷熱臺使用非磁性材料設計TS系列冷熱臺(-196~1500℃):包括各種型號的冷臺、中溫熱臺、高溫熱臺、溫控探針臺及定制方案;可使用電極探針,也可以使用定制管殼對樣品進行封裝
TS-PM-Y溫控探針冷熱臺可獨立控溫,也可通過上位機軟件控制,溫度范圍廣,120℃/400℃/600℃/800℃/1000℃可選,可選擇透射光或反射光觀察 探針種類豐富,可根據用戶需求進行定制 軟件拓展性強,可提供LABVIEW等語言的SDK。
TS600-EM-Y 橢偏儀冷熱臺配合偏光顯微鏡使用,樣品位置可XY軸移動,該型號體積小巧輕薄,結構緊湊。 配套:A2101(吸附筆)、A2102(石英片)、A2510(無痕雙面膠);
TS300N-SV-Y 聲速測量冷熱臺可以用于搭配聲速測量設備,進行聲速的變溫測量,實現變溫范圍-80到200℃,同時該型號可衍生用于光譜儀積分球等光學高低溫測試場合;
簡要描述: TS400-R-Y 溫控探針系列專門針對材料電學測試而設計的一款產品,溫度范圍為-196~400℃,全程溫度穩(wěn)定性控制0.5℃以內,采用四探針法可表征材料升溫和降溫階段電阻率隨溫度變化的特征。